A Rasterelektronenmikroskop(SEM) ist eine Art Elektronenmikroskop zum Scannen mikrobieller Oberflächen, bei dem ein sich bewegender Elektronenstrahl mit niedriger Energie zum Fokussieren und Scannen der Probe verwendet wird.
Die Entwicklung der Elektronenmikroskopie wurde auf die Ineffizienz der Wellenlängen der optischen Mikroskopie zurückgeführt. Im Vergleich zu Lichtmikroskopen haben Elektronenmikroskope kurze vertikale Wellenlängen und erreichen daher eine bessere Auflösung.
Prinzipien der Rasterelektronenmikroskopie
Im Gegensatz zur Transmissionselektronenmikroskopie, bei der durchgelassene Elektronen verwendet werden, verwendet die Rasterelektronenmikroskopie emittierte Elektronen.
Bei der Rasterelektronenmikroskopie wird kinetische Energie eingesetzt, um Signale über Elektronenwechselwirkungen zu erzeugen. Bei diesen Elektronen handelt es sich um Sekundärelektronen, Rückstreuelektronen und gebeugte Rückstreuelektronen, die zur Beobachtung kristalliner Elemente und Photonen verwendet werden. Zur Erzeugung des Bildes werden Sekundärelektronen und Rückstreuelektronen verwendet. Die von der Probe emittierten Sekundärelektronen spielen eine wichtige Rolle bei der Erkennung der Morphologie und Topographie der Probe, während die rückgestreuten Elektronen einen Kontrast in der Elementzusammensetzung der Probe zeigen.
